Общество с дополнительной ответственностью
«Микротестмашины»
microtm.comОДО «Микротестмашины» ::: Продукция ::: СЗМ (АСМ) NT-206
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
::: NT-206 :::
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп
(атомно-силовой микроскоп)
 
ОПИСАНИЕ
 
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп NT-206 представляет собой атомно-силовой микроскоп (АСМ) в комплексе с аппаратными и программными средствами, необходимыми для измерения и анализа микро- и субмикрорельефа поверхностей, объектов микро- и нанометрового размерного диапазона, их микромеханических и других свойств с высоким разрешением.

Positioning probe over journal neck of watch gear
Позиционирование зонда АСМ NT-206 над шейкой вала часовой шестерни

Встроенная видеосистема в сочетании с автоматизированной платформой микроперемещений обеспечивают удобство настройки прибора и возможность точно выбирать область измерений на поверхности образца, что качественным образом повышает функциональность прибора при работе с микрообъектами.

В зависимости от специфики исследовательских задач АСМ NT-206 может комплектоваться специализированными сменными модулями для проведения микротрибометрических и адгезиометрических измерений или наноиндентирования.

 
ХАРАКТЕРИСТИКИ
 
Режимы измерений:

 

Режимы движения при измерениях:
- по участку;
- по линии;
- в отдельной точке

  1. Контактная статическая АСМ
  2. Латерально-силовая микроскопия /одновременно с контактной статической АСМ/
  3. Бесконтактная динамическая АСМ
  4. Полуконтактная динамическая АСМ (аналог Tapping Mode®)
  5. Микроскопия фазового контраста /одновременно с полуконтактной динамической АСМ/
  6. Двухпроходный режим (для статической и динамической АСМ)
  7. Двухпроходный режим с переменным подъемом (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
  8. Многоцикловое сканирование участка (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
  9. Многослойное сканирование участка с переменной нагрузкой (для статической и динамической АСМ) /Оригинальная методика!/
  10. Электростатическая силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **
  11. Токовый режим *, **
  12. Магнитно-силовая микроскопия (двухпроходная методика) *, **
  13. Статическая силовая спектроскопия (с расчетом количественных характеристик, поверхностной энергии и модуля упругости образца в точке анализа)
  14. Динамическая силовая спектроскопия
  15. Динамическая частотная силовая спектроскопия /Оригинальная методика!/
  16. Наноиндентирование *
  17. Наноцарапание *
  18. Наноизнашивание по линии *
  19. Нанолитография (с контролем <i> прижатия, <ii> глубины внедрения, <iii> напряжения смещения) *
  20. Микротрибометрия * /Оригинальная методика!/
  21. Микроадгезиометрия * /Оригинальная методика!/
  22. Микротрибометрия в режиме shear-force * /Оригинальная методика!/
  23. Температурно-зависимые измерения (для всех вышеперечисленных режимов) *

Примечание.
* - требуется использование специализированной оснастки
** - требуется использование специализированных зондов

Поле сканирования: от 5х5 мкм до 90x90 мкм
Максимальный диапазон измерения высот: от 2 до 4 мкм
Латеральное разрешение (плоскость XY): 1–5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов)
Вертикальное разрешение (направление Z): 0,1–0,5 нм (в зависимости от жесткости поверхности образцов)
Размер матрицы сканирования: до 1024x1024 точек
Скорость сканирования: 40–250 точек/с в плоскости X-Y
Коррекция нелинейностей: Программная коррекция движения сканера
Минимальный шаг сканирования: 0,3 нм
Схема сканирования: Подвижный образец под неподвижным зондом.
Образец перемещается в плоскости X-Y (горизонтальной) и в Z-направлении (вертикальном) под неподвижным зондом.
Тип сканнера: Пьезокерамический трубчатый.
Зонды: Промышленно выпускаемые зонды (чипы размером 3.4x1.6x0.4 мм). Рекомендуются зонды Mikromasch или NT-MDT. Применимы также зонды BudgetSensor и Nanosensors
Система детектирования отклонения измерительной консоли: Лазерно-лучевая с четырехсекционным позиционно-чувствительным фотодетектором
Размеры образца: До 30x30x5 мм (ш–г–в); при использовании дополнительной промежуточной вставки допускается измерение образцов высотой до 35 мм.
Выходное напряжение высоковольтного усилителя: +190 В
АЦП: 16 bit
Условия работы: Открытый воздух, 760+40 мм рт. ст., 22+4°С, относительная влажность <70%
Диапазон автоматизированных перемещений измерительной головки: 10x10 мм в плоскости XY для микропозиционирования зонда относительно исследуемого объекта с шагом 2,5 мкм с оптическим визуальным контролем.
Габариты: Блок сканирования (с видеокамерой): 185x185x290 мм
Блок электроники управления: 360x420x220 мм
Поле обзора встроенной видеосистемы: 1x0.75 мм, размер окна визуализации 640x480 пиксел.
Виброизоляция: Рекомендуется дополнительный антивибрационный стол или подвес
Управляющий компьютер: Не хуже, чем: Celeron® 2.2, RAM 256 MB, HDD 80 GB, VRAM 128 MB, monitor 1024x768x32 bit, Windows® XP SP1, 2 USB port.
Рекомендуется:  Core i5 or equivalent, RAM 2 GB, HDD 320 GB, VRAM 1 GB, monitor 1600x1200x32 bit, Windows® XP SP2 or higher, 2 free USB port.
Программное обеспечение: Специальное управляющее программное обеспечение SurfaceScan и программа обработки АСМ-изображений SurfaceView / SurfaceXplorer входят в комплект поставки прибора.
     * Перед измерениями зонд может быть перемещен в интересующую область над образцом при помощи автоматизированной платформы. Визуальный обзор области сканирования (объектов, над которыми находится зонд) в приборе обеспечивается с помощью видеокамеры, которая позволяет в реальном масштабе времени наблюдать за перемещениями зонда над исследуемой поверхностью. Видеосистема и платформа автоматизированного перемещения зонда над образцом включены в базовую комплектацию прибора (встроены по умолчанию). Сочетание этих двух опций позволяет достаточно гибко выбирать на поверхности участки (объекты) для сканирования.
 
 
КОМПЛЕКТАЦИЯ
 ::: БАЗОВЫЙ КОМПЛЕКТ

Блок сканирования (атомно-силовой микроскоп)

Включает базовую платформу со встроенной платформой автоматизированного XY-позиционирования и измерительную головку с интегрированной видеосистемой

Блок электроники управления
в комплекте с соединительными кабелями
(варианты корпуса)

Комплект программного обеспечения:

Программное обеспечение предназначено для работы в среде Win32. Обновления доступны на данном сайте в разделе АРХИВ > ПРОГРАММЫ
Программа SurfaceScan для управления работой прибора сбора и визуализации измеряемых данных
Программный пакет SurfaceView и SurfaceXplorer для обработки, визуализации и анализа измеренных данных.
Может включать plug-ins для работы с данными, полученными на других сканирующих зондовых микроскопах.
Набор драйверов для USB-соединения управляющего ПК с блоком электроники управления и работы видеосистемы.
Примечание:
1 Базовый комплект включает управляющее программное обеспечение (для Win32) и руководство по эксплуатации.
 ::: ДОПОЛНИТЕЛЬНЫЕ ОСНАСТКА И ПРИНАДЛЕЖНОСТИ (опционально)
Suspension rack Специализированный виброизолирующий подвес Сменный держатель зондов
Relaceable scanners Сменные сканеры для диапазонов:
5x5x2 мкм
10x10x3 мкм
20x20x3.5 мкм
40x40x3.5 мкм
50x50x3.5 мкм
90x90x3.5 мкм
Оснастка для сканирования образца в жидкой среде
Thermocell Термоплатформа: сменный предметный столик для нагрева исследуемого образца до 150 °С с автономным контроллером Сменный держатель для проводящих зондов
Extending insertion Промежуточная вставка, обеспечивающая измерение образцов толщиной (высотой) до 35 мм Сменный модуль микротрибометра-адгезиометра
Опция: набор зондов
(пр-во Mikromasch)

Сменный модуль shear-force микротрибометра

Ask!
Опция: набор калибровочных тест-образцов
(пр-во Mikromasch)

Сменный модуль наноиндентора

Ask!
 
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ

Control software  running on 19-inch screenПрограммное обеспечение управления АСМ
NT-206 SurfaceScan — это 32-разрядное приложение Windows. Оно работает в операционых системах Windows XPsp2/Vista/7.

Программное обеспечение управления АСМ обеспечивает все предварительные настройки и установки, необходимые для работы АСМ: визуальный контроль за подстройкой лазерно-лучевой системы детектирования, настройкой колебаний кантилевера (в динамическом режиме), настройку системы обратной связи, позиционирование образца под зондом, а также подвод образца к зонду перед измерениями и отвод после. Обеспечивается выбор полного поля сканирования или любого уменьшенного в его пределах участка для измерений.

Оператор может следить за процессом сканирования и получения АСМ-изображений в любой комбинации, либо переключаться между сканируемыми изображениями в одном окне. Дополнительно отображается текущий профиль.

Полученные данные сохраняются в файлах специального формата, которые могут затем обрабатываться, визуализироваться (в 2-D и 3-D представлении) и анализироваться с помощью специализированного программного пакета SurfaceView или SurfaceXplorer.

 
Copyright © 2002-2011, Microtestmachines Co.
All rights reserved.