| Свириденок А. И. Актуальные проблемы применения
СЗМ в Беларуси // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
7–9
Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е. Метод микроконтактной печати,
локальная модификация поверхности и интерпретация данных сканирующей зондовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
10–13
Брич М. А., Чижик С. А. Моделирование взаимодействия углеродной
нанотрубки, как зонда атомно-силового микроскопа, с кристаллом алмаза // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 14–18
Миронов В. Л., Грибков Б. А., Никитушкин Д. С., Фраерман А.
А. Магнитно-силовая микроскопия ферромагнитных наночастиц // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 19–22
Миронов В. Л., Никитушкин Д. С., Грибков Б. А., Гусев С. А.
Магнитно-силовая микроскопия слабокоэрцитивных ферромагнитных наночастиц // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 23–26
Чижик С. А., Шкадаревич А. П., Кузнецова Т. А., Курганович А.
М. Контроль поверхностей лазерной оптики методом атомно-силовой микроскопии //
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар.
Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 27–31
Berezina S., Zinin P., Koehler B. Non-destructive characterization
of thick DLC-films // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 32–36
Ясинский В. М., Ивакин Е. В., Суходолов А. В., Хайруллина А.
Я., Кокиц А. Н. Исследование особенностей возбуждения плазмон-поляритонов в периодически
наноструктурированных металлических пленках методом фотонной сканирующей туннельной
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
37–42
Сошников А. И., Гоголинский К. В., Решетов В. Н. Исследование
с помощью СЗМ Наноскан свойств области контакта токопроводящих алмазных зондов
с поверхностью // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
43–47
Kukharenko L. V., Fuchs H., Leshchenko V. G., Gelis L. G., Lazareva
I. V. Surface morphological change investigation with scanning force microscope
in surface activated platelets // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси,
2006. – С. 48–53
Плескачевский Ю. М., Суслов А. A., Чикунов В. В., Цуан Янь,
Чижик С. A. Самоорганизация поверхностных слоев твердых покрытий при трении //
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар.
Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 54–63
Wielgo K., Ekwinska M., Rymuza Z. Nanoindentation studies of
amorphous carbon thin films for MEMS applications // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 64–68
Pustan M., Rymuza Z. Scale effect on mechanical properties of
movable MEMS structures tested by atomic force microscope // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 69–75
Балабанова Н., Чикунов В. В., Римуза З. Влияние сонорных осцилляций
и топографии поверхности на адгезионные свойства полимерных покрытий // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 76–81
Koszewski A., Gorski T., Rymuza Z. Estimation of Young’s modulus
of ultrathin polymeric films for nanoimprint lithography by use of atomic force
microscope // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 82–87
Chizhik S. A., Vo Thanh Tung, Chikunov V. V., Nguyen Tho Vuong,
Tran Xuan Hoai Interactions of quartz tuning fork of atomic force microscope operating
under shear-force and taping modes // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси,
2006. – С. 88–92
Игнатовский М. И. К вопросу о применении зондовой микроскопии
для исследования полимерных композитов // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 93–98
Романюк В. Л., Гременок В. Ф., Меркулов В. С., Залесский В.
Б., Ермаков О. В., Чигирь Г. Г., Сякерский В. С., Абетковская С. О. Исследование
морфологии поверхности тонких сегнетоэлектрических пленок BaxSr1-xTiO3 с помощью
атомно-силового микроскопа // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 99–101
Гончарова О. В., Гременок В. Ф., Чижик С. А. Применение сканирующей
зондовой микроскопии для исследования влияния толщины пленочных слоев сульфида
индия на их структуру // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 102–107
Пилипенко В. А., Петлицкая Т. В., Чижик С. А., Кузнецова Т.
А. Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 108–114
Сыроежкин С. В., Журавский В. С., Губанов А. В., Чижик С. А.
Многоуровневая реконструкция АСМ-изображений // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 115–122
Артамонов В. В., Алексеенко А. А., Бойко А. А., Подденежный
Е. Н. Применение метода СЗМ для анализа структурных особенностей гель-стекол и
керамики // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 123–125
Довбешко Г. И., Фесенко О. М. Структура и свойства металлических
наноповерхностей, усиливающих оптические сигналы // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 126–127
Дубравин А. М. Моделирование динамического контакта Зонд–Образец
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 128–133
Абетковская С. О., Чижик С. А. Влияние упругих и адгезионных
свойств образца на его контактное деформирование и фазовый контраст в динамическом
режиме атомно-силового микроскопа // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси,
2006. – С. 134–138
Бондаренко М. А., Шевченко Ю. Б., Бойко В. П., Коваленко Ю.
И., Яценко И. В., Канашевич Г. В., Ващенко В. А. Исследование микрогеометрии поверхности
оптических стекол после электронной и после лазерной обработки методом атомно-силовой
микроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
139–142
Бондаренко М. А., Бондаренко Ю. Ю., Бабаев А. К., Яценко И.
В., Рева И. А., Конопальцев Л. И., Ващенко В. А. Применение метода атомно-силовой
микроскопии в прогнозировании срока эксплуатации пьезоэлектрических преобразователей
медицинских приборов // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 143–147
Стародубцева М. Н., Кузнецова Т. Г., Егоренков Н. И. АСМ-исследование
эритроцитов, кренированных активными формами азота // Методологические аспекты
сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 148–152
Кузнецова Т. Г., Стародубцева М. Н., Егоренков Н. И. Определение
механических свойств клеточных поверхностей // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 153–157
Слобожанина Е. И., Козлова Н. М., Ясинский В. М., Филимоненко
Д. С., Хайруллина А. Я. Исследование Zn-индуцированных изменений в эритроцитарных
мембранах методом атомно-силовой микроскопии // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 158–161
Трушко А. В., Чижик С. А. АСМ-анализ хрящевых тканей // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 162–168
Джилавдари И. З., Какошко Е. Ю. Исследование упругих растяжений
и диссипации энергии на поверхности кристалла методом микродеформаций под действием
качающегося шарика // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 169–174
Айзикович С. М., Кренев Л. И. Трубчик И. С. Статическое исследование
механических свойств функционально-градиентных покрытий при воздействии с поверхности
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 175–177
Шипица Н. А. Исследования поверхности сканирующим датчиком Кельвина
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 178–183
Циркунова Н. Г., Борисенко В. Е. Геометрия зондовой микроскопии:
Влияние радиуса закругления зонда на точность формируемого изображения // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 184–190
Малиновская О. С. Исследование нанотрубок и других углеродных
наноструктур с помощью сканирующего туннельного микроскопа НТК «Умка» // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 191–194
Суслов А. А., Шашолко Д. И. Использование программного пакета
«SurfaceXplorer» для обработки, визуализации и анализа СЗМ-изображений // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 195–201
Дубравин А. М., Комков О. Ю. Контролируемое перемещение наночастиц
по поверхности подложки в режиме кратковременного контакта зонда с поверхностью
образца // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 202–204
Дубравин А. М., Комков О. Ю., Yoon Eui-Sung Формирование нанорельефа
при локальном оксидировании поверхности кремния с помощью атомно-силового микроскопа
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 205–211
Дубравин А. М., Комков О. Ю, Браилко Н. Н. Некоторые особенности
АСМ-изображений и их коррекции // Методологические аспекты сканирующей зондовой
микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси,
2006. – С. 212–216
Барайшук С. М., Верес О. Г., Ташлыков И. С. Топография и свойства
поверхности изделий, модифицированных ионно-ассистированным осаждением покрытий
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 217–221
Чапланова Ж. Д., Михайловский Ю. К., Агабеков В. Е., Ольховик
В. К., Галиновский Н. А., Грачева Е. А. Изучение морфологии термонапыленных тонких
бензоксазольных производных бифенила методом сканирующей зондовой микроскопии
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 222–226
Игнатовский М. И., Свириденок А. И., Смуругов В. А., Ховатов
П. А., Чмыхова Т. Г. Влияние нанонаполнителей на картину износа поверхности стали
в субмикронном диапазоне // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 227–230
Kukharenko L. V., Koshikawa T., Aleinikova O. V., Shman T. V.,
Krylov A. B., Ivanov A. A., Tsirkunova N. G. Combination of confocal laser scanning
microscopy with scanning force microscopy for K562 cells study // Методологические
аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов.
– Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 231–235
Chizhik S. A., Vo Thanh Tung, Chikunov V. V., Nguyen Tho Vuong
Influence of additional mass on quartz tuning fork in dynamic operation mode //
Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный семинар.
Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 236–240
Торская Е. В., Горячева И. Г., Чижик С. А., Сыроежкин С. В.
Определение толщины упругого слоя на твердой подложке методом статической силовой
спектроскопии // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
241–245
Кузнецова Т. А. Применение атомно-силовой микроскопии в методах
индентирования // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII
Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С.
246–251
Kotov D. A., Dubkova V. I. Application of atomic force microscopy
for study of modified carbon fiber surface // Методологические аспекты сканирующей
зондовой микроскопии. VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО
НАН Беларуси, 2006. – С. 252–255
Шилько С. В., Хиженок В. Ф., Абетковская С. О., Плескачевский
Ю. М. Атомно-силовая микроскопия поверхности деталей искусственного клапана сердца
// Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии. VII Международный
семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006. – С. 256–259
Жданок С. А., Крауклис А. В., Самцов П. П., Кузнецова Т. А.,
Полевиков В. М., Чижик С. А. Атомно-силовая микроскопия поверхности стали, модифицированной
углеродными нанотрубками // Методологические аспекты сканирующей зондовой микроскопии.
VII Международный семинар. Сборник докладов. – Минск: ИТМО НАН Беларуси, 2006.
– С. 260–264
|
