4-й Белорусский
семинар по
СКАНИРУЮЩЕЙ
ЗОНДОВОЙ
МИКРОСКОПИИ

Гомель Беларусь 24–25 октября 2000 г.
BelSPM-4 [2000]

ПРОГРАММА СЕМИНАРА

Финансовая и
информационная
поддержка :::
Микротестмашины
 Оргкомитет | Адрес | ПРОГРАММА | СБОРНИК ДОКЛАДОВ | БелСЗМ-5 (2002) in ENGLISH

ТЕМАТИКА СЕМИНАРА

  • Методики характеризации поверхностей с помощью сканирующей зондовой микроскопии
  • Развитие аппаратных средств для сканирующих зондовых микроскопов
  • Методы обработки и представления СЗМ-данных
  • Моделирование микро- и наномасштабных процессов с использованием СЗМ-данных
  • Прикладные аспекты сканирующей зондовой микроскопии.

На семинаре будут представлены пленарные доклады (до 30 мин.) и сообщения (до 20 мин.)


ЗАДАЧИ СЕМИНАРА

Цель семинара – обсуждение фундаментальных и прикладных аспектов сканирующей зондовой микроскопии.

Первый семинар, организованный по инициативе ИММС НАНБ, ИФТТП НАНБ, ОПР НАНБ и БГУ, прошел в апреле 1996 г. в г. Гомеле с участием специалистов Беларуси и России. Второй семинар состоялся в мае 1997 г. в г. Минске (ИФТТП НАНБ), третий – в октябре 1998 г. в г. Гродно (ОПР НАНБ).

К участию в работе Четвертого семинара приглашены ученые и практики из Беларуси, России, Украины, активно работающие в развивающейся области – сканирующей зондовой микроскопии.


МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ

Актовый зал Института механики металлополимерных систем им. В. А. Белого
НАН Беларуси
по адресу: г. Гомель, ул. Кирова, 32А


ОРГАНИЗАТОРЫ

  • Институт механики металлополимерных систем им. В. А. Белого НАН Беларуси
  • Белорусский Республиканский Фонд фундаментальных исследований
  • Отдел проблем ресурсосбережения НАН Беларуси
  • Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
  • НПО «Интеграл» (г. Минск)
  • ОДО «Микротестмашины» (г. Гомель)

ОРГАНИЗАЦИОННЫЙ КОМИТЕТ

Плескачевский Ю. М. - ИММС НАНБ, член-корр. НАНБ, председатель
Олехнович Н. М. - ИФТТП НАНБ, академик НАНБ, сопредседатель
Свириденок А. И. - ОПР НАНБ, академик НАНБ, сопредседатель
Анищик В. М. - БГУ, д.ф.-м.н.
Борисенко В. Е. – БГУИР, д.ф.-м.н.
Емельянов В. А. – НПО «Интеграл», член-корр. НАНБ
Свекло И. Ф. - ОПР НАНБ, к.ф.-м.н.
Стукалов О. М. - ИФТТП НАНБ
Суслов А. А. - ИММС НАНБ, к.т.н., ответственный секретарь
Чижик С. А. – ИММС НАНБ, д.т.н.


АДРЕС ОРГКОМИТЕТА

ИММС им. В. А. Белого НАН Беларуси
ул. Кирова 32А,
246050 г. Гомель,
Беларусь

Телефон: (0232) 77 46 42, 77 52 12
Fax: (0232) 77 52 11
E-mail: awort@hotmail.com, schizhik@hotmail.com, mpri@mail.ru



ПРОГРАММА СЕМИНАРА


24 ОКТЯБРЯ


Утреннее заседание. Начало - 10:00
Председатель - Плескачевский Ю. М.
Секретарь - Свекло И. Ф.

1. Открытие семинара. Вступительное слово Председателя Оргкомитета член-кор. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевского

2. Плескачевский Ю. М., Суслов А. А. Сканирующая зондовая микроскопия и ее приложения

3. Свириденок А. И. Некоторые актуальные достижения нанотрибологии

4. Чижик С. А., Горбунов В. В., Мышкин Н. К., Лузинов И., Фучигами Н., Цукрук В. В. Силовая спектроскопия нанослоев полимеров на жесткой подложке

5. Sveklo I. F. In-situ control of AFM-scanner nonlinearity


11:00-11:30 - Перерыв

6. Жарин А. Л., Шипица Н. А., Сарока Д. И. Метод исследования поверхности металлов методом Кельвина

7. Волгунов Д. Г., Бирюков А. В., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Чижик С. А. Особенности взаимодействия зонда с поверхностью в shear force микроскопе с резонансным пьезоэлектрическим датчиком силы

8. Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е., Галлямов М. О., Яминский И. В., Рогач А. Л., Гурин В. С. Исследование с помощью АСМ особенностей структуры мономолекулярных композиционных пленок бегеновой кислоты с CdTe наночастицами

9. Сергеев О. В., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Реализация сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для катодолюминесцентного микроанализа со сверхвысоким разрешением

10. Сергеев О. В., Гапоненко Н. В., Молчан И. C., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Ближнеполевая катодолюминесценция, фотолюминесценция и структурные особенности тербийсодержащих пленок ксерогелей оксида титана, сформированных в порах анодного оксида алюминия


13:00-14:00 - Обед

Дневное заседание. Начало - 14:00
Председатель - Чижик С. А.
Секретарь - Суслов А. А.

11. Матюхина Т. Г., Комков О. Ю., Чижик С. А. АСМ-исследование клеток сердечно-сосудистой системы и крови. Проблемы и надежды

12. Chumakova O. V., Liopo A. V., Komkov O. Yu., Chizhik S. A. Damaging effect of acetaldehyde on the membrane of striatal synaptosomes as evaluated by atomic-force microscopy

13. Емельянов В. А., Пономарь В. Н., Ухов В. А., Чигирь Г. Г. Применение сканирующей зондовой микроскопии в технологии микроэлектроники

14. Почтенный А. Е., Стукалов О. М., Бирюков А. Г., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Волгунов Д. Г. Фотоиндуцированные локальные туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина меди


15:30-16:00 - Перерыв

15. Андреев М. А., Чекан В. А., Маркова Л. В., Кузнецова Т. А. Атомно-силовая микроскопия как метод исследования структуры тонких ионно-лучевых покрытий на основе хрома

16. Паньков В. В., Козлов С. В., Куницкий Л. И., Стукалов О. М. Исследование процессов образования пленок многокомпонентных оксидов металлов, полученных методом реакционной диффузии

17. Стукалов О. М., Мисевич А. В., Почтенный А. Е. Влияние толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких сенсорных пленок на основе фталоцианина меди

18. Чижик С. А., Ан Х.-С., Лузинов И., Горбунов В. В., Дубравин А. М., Цукрук В. В. Изображения фазового контраста для твердых материалов и их интерпретация методом силовой спектроскопии


25 ОКТЯБРЯ


Утреннее заседание. Начало - 10:00
Председатель - Свириденок А. И.
Секретарь - Овчинников Е. В.

19. Мышкин Н. К., Чижик С. А., Петроковец М. И. Масштабный фактор в трибологии и зондовая микроскопия

20. Горбунов В.В., Фучигами Н., Цукрук В. В. Анализ локальной теплопроводности поверхности материалов с помощью сканирующей термической микроскопии

21. Горбунов В. В., Фучигами Н., Лузинов И. А., Цукрук В. В. Анализ температуры стеклования сверхтонких полимерных пленок с использованием сканирующей термической микроскопии

22. Овчинников Е. В., Струк В. А., Федоров Д. И. Морфология тонкослойных покрытий на полимерных волокнах

23. Овчинников Е. В., Федоров Д. И. Влияние морфологии покрытий на физико-механические свойства подложек


11:00-11:30 - Перерыв

24. Мушовец И. И., Полевиков В. М., Хмыль А. А. АСМ анализ начальных стадий электрокристализации покрытий серебра на поверхностях кремния

25. Дубравин А. М., Ан Х.-С., Попов А. Н., Казаченко В. П., Цуан Янь, Чижик С. А. АСМ анализ дорожек трения на углеродном покрытии

26. Стогний А. И., Корякин С. В., Бородько В. И., Новицкий Н. Н., Стукалов О. М. Исследование поверхности многослойных плёнок Co/Cu, формируемых ионным распылением и ассистированием в аргон-гелиевой среде

27. Корнийчук М. Б., Анищик В. М. Структурно-фазовые изменения поверхности кобальта, имплантированного ионами сурьмы

28. Кухаренко Л. В., Акулов Г. Ю., Ильич Г. К., Лещенко В. Г., Анищик В. М., Грушевский В. В., Крылова Г. В., Хмельницкий А. И. Особенности морфологии Fe-содержащих пленок Ленгмюра-Блоджетт, исследованные методом АСМ


13:00-14:00 - Обед

Дневное заседание. Начало - 14:00
Председатель - Стукалов О. М.
Секретарь - Игнатовский М. И.

29. Полевиков В. М., Федосенко Н. Н., Шолох В. Г., Шельманов А. И., Емельянов В. А. Исследование топологии поверхности локальных осадков серебра методом атомно-силовой микроскопии

30. Булыга А. В. О механизме туннелирования электронов сквозь создаваемый ими барьер пространственного заряда в межэлектродном зазоре вакуумного диода

31. Игнатовский М. И. Методы сегментации АСМ и СТМ изображений. Распознавание и описание кластерных объектов поверхности в нанодиапазоне

32. Киселевский О. С. Методика мультифрактального анализа поверхностей по данным атомно-силовой микроскопии

33. Евтухов А. М. Влияние формы острия зонда на фрактальную размерность профиля рельефа


15:30-16:00 - Перерыв

34. Гайдук Н. Б. Компьютерное моделирование как метод анализа АСМ-изображений контактных поверхностей

35. Ковалев А. В., Чикунов В. В. Методики калибровки и проведения измерений для АСМ, работающего в режиме силовой модуляции

36. Болтушкин А. В., Шадров В. Г., Стукалов О. М. Морфология поверхности и магнитные свойства электролитически осажденных пленок сплавов на основе Со

37. Суслов А. А., Чижик С. А., Гайдук Н. Б., Тишков Н. И., Плескачевский Ю. М. АСМ-анализ массопереноса в адгезионных соединениях полимер-металл

38. Закрытие семинара. Подведение итогов. Заключительное слово Председателя Оргкомитета член-кор. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевского.


СБОРНИК ДОКЛАДОВ (библиографическая информация)
4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии: Сборник докладов. Гомель, 24-25 октября 2000 г. – Гомель: ИММС НАН Беларуси, 2000. – 152 с.

 

Home PageThis page design: Andrei Suslov