ТЕМАТИКА СЕМИНАРА
На семинаре будут представлены пленарные доклады (до 30 мин.) и сообщения (до 20 мин.) ЗАДАЧИ СЕМИНАРА
МЕСТО ПРОВЕДЕНИЯ Актовый зал Института
механики металлополимерных систем им. В. А. Белого ОРГАНИЗАТОРЫ
24 ОКТЯБРЯ Утреннее заседание. Начало - 10:00 1. Открытие семинара. Вступительное слово Председателя Оргкомитета член-кор. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевского 2. Плескачевский Ю. М., Суслов А. А. Сканирующая зондовая микроскопия и ее приложения 3. Свириденок А. И. Некоторые актуальные достижения нанотрибологии 4. Чижик С. А., Горбунов В. В., Мышкин Н. К., Лузинов И., Фучигами Н., Цукрук В. В. Силовая спектроскопия нанослоев полимеров на жесткой подложке 5. Sveklo I. F. In-situ control of AFM-scanner nonlinearity 11:00-11:30 - Перерыв 6. Жарин А. Л., Шипица Н. А., Сарока Д. И. Метод исследования поверхности металлов методом Кельвина 7. Волгунов Д. Г., Бирюков А. В., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Чижик С. А. Особенности взаимодействия зонда с поверхностью в shear force микроскопе с резонансным пьезоэлектрическим датчиком силы 8. Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е., Галлямов М. О., Яминский И. В., Рогач А. Л., Гурин В. С. Исследование с помощью АСМ особенностей структуры мономолекулярных композиционных пленок бегеновой кислоты с CdTe наночастицами 9. Сергеев О. В., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Реализация сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для катодолюминесцентного микроанализа со сверхвысоким разрешением 10. Сергеев О. В., Гапоненко Н. В., Молчан И. C., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Ближнеполевая катодолюминесценция, фотолюминесценция и структурные особенности тербийсодержащих пленок ксерогелей оксида титана, сформированных в порах анодного оксида алюминия 13:00-14:00 - Обед Дневное заседание. Начало - 14:00 11. Матюхина Т. Г., Комков О. Ю., Чижик С. А. АСМ-исследование клеток сердечно-сосудистой системы и крови. Проблемы и надежды 12. Chumakova O. V., Liopo A. V., Komkov O. Yu., Chizhik S. A. Damaging effect of acetaldehyde on the membrane of striatal synaptosomes as evaluated by atomic-force microscopy 13. Емельянов В. А., Пономарь В. Н., Ухов В. А., Чигирь Г. Г. Применение сканирующей зондовой микроскопии в технологии микроэлектроники 14. Почтенный А. Е., Стукалов О. М., Бирюков А. Г., Гапонов С. В., Миронов В. Л., Волгунов Д. Г. Фотоиндуцированные локальные туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина меди 15:30-16:00 - Перерыв 15. Андреев М. А., Чекан В. А., Маркова Л. В., Кузнецова Т. А. Атомно-силовая микроскопия как метод исследования структуры тонких ионно-лучевых покрытий на основе хрома 16. Паньков В. В., Козлов С. В., Куницкий Л. И., Стукалов О. М. Исследование процессов образования пленок многокомпонентных оксидов металлов, полученных методом реакционной диффузии 17. Стукалов О. М., Мисевич А. В., Почтенный А. Е. Влияние толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких сенсорных пленок на основе фталоцианина меди 18. Чижик С. А., Ан Х.-С., Лузинов И., Горбунов В. В., Дубравин А. М., Цукрук В. В. Изображения фазового контраста для твердых материалов и их интерпретация методом силовой спектроскопии 25 ОКТЯБРЯ Утреннее заседание. Начало - 10:00 19. Мышкин Н. К., Чижик С. А., Петроковец М. И. Масштабный фактор в трибологии и зондовая микроскопия 20. Горбунов В.В., Фучигами Н., Цукрук В. В. Анализ локальной теплопроводности поверхности материалов с помощью сканирующей термической микроскопии 21. Горбунов В. В., Фучигами Н., Лузинов И. А., Цукрук В. В. Анализ температуры стеклования сверхтонких полимерных пленок с использованием сканирующей термической микроскопии 22. Овчинников Е. В., Струк В. А., Федоров Д. И. Морфология тонкослойных покрытий на полимерных волокнах 23. Овчинников Е. В., Федоров Д. И. Влияние морфологии покрытий на физико-механические свойства подложек 11:00-11:30 - Перерыв 24. Мушовец И. И., Полевиков В. М., Хмыль А. А. АСМ анализ начальных стадий электрокристализации покрытий серебра на поверхностях кремния 25. Дубравин А. М., Ан Х.-С., Попов А. Н., Казаченко В. П., Цуан Янь, Чижик С. А. АСМ анализ дорожек трения на углеродном покрытии 26. Стогний А. И., Корякин С. В., Бородько В. И., Новицкий Н. Н., Стукалов О. М. Исследование поверхности многослойных плёнок Co/Cu, формируемых ионным распылением и ассистированием в аргон-гелиевой среде 27. Корнийчук М. Б., Анищик В. М. Структурно-фазовые изменения поверхности кобальта, имплантированного ионами сурьмы 28. Кухаренко Л. В., Акулов Г. Ю., Ильич Г. К., Лещенко В. Г., Анищик В. М., Грушевский В. В., Крылова Г. В., Хмельницкий А. И. Особенности морфологии Fe-содержащих пленок Ленгмюра-Блоджетт, исследованные методом АСМ 13:00-14:00 - Обед Дневное заседание. Начало - 14:00 29. Полевиков В. М., Федосенко Н. Н., Шолох В. Г., Шельманов А. И., Емельянов В. А. Исследование топологии поверхности локальных осадков серебра методом атомно-силовой микроскопии 30. Булыга А. В. О механизме туннелирования электронов сквозь создаваемый ими барьер пространственного заряда в межэлектродном зазоре вакуумного диода 31. Игнатовский М. И. Методы сегментации АСМ и СТМ изображений. Распознавание и описание кластерных объектов поверхности в нанодиапазоне 32. Киселевский О. С. Методика мультифрактального анализа поверхностей по данным атомно-силовой микроскопии 33. Евтухов А. М. Влияние формы острия зонда на фрактальную размерность профиля рельефа 15:30-16:00 - Перерыв 34. Гайдук Н. Б. Компьютерное моделирование как метод анализа АСМ-изображений контактных поверхностей 35. Ковалев А. В., Чикунов В. В. Методики калибровки и проведения измерений для АСМ, работающего в режиме силовой модуляции 36. Болтушкин А. В., Шадров В. Г., Стукалов О. М. Морфология поверхности и магнитные свойства электролитически осажденных пленок сплавов на основе Со 37. Суслов А. А., Чижик С. А., Гайдук Н. Б., Тишков Н. И., Плескачевский Ю. М. АСМ-анализ массопереноса в адгезионных соединениях полимер-металл 38. Закрытие семинара. Подведение итогов. Заключительное слово Председателя Оргкомитета член-кор. НАН Беларуси Ю. М. Плескачевского.
|
||||||||||||||||
![BelSPM-4 [2000]](byspm2k.gif)
