Доклады, опубдликованные в сборнике, доступны в .PDF формате.
(здесь загружается обложка сборника >>).
|
Download
|
Плескачевский Ю. М., Суслов А. А. Сканирующая зондовая
микроскопия и ее приложения // 4-й Белорусский семинар по сканирующей
зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 6-9 |
|
Свириденок А. И. Некоторые актуальные достижения нанотрибологии
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 10-13 |
|
Чижик С. А., Горбунов В. В., Мышкин Н. К., Лузинов И., Фучигами
Н., Цукрук В. В. Силовая спектроскопия нанослоев полимеров на
жесткой подложке // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой
микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 14-15 |
|
Sveklo I. F. In-situ control of AFM-scanner nonlinearity
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 19-21 |
|
Жарин А. Л., Шипица Н. А., Сарока Д. И. Метод исследования
поверхности металлов методом Кельвина // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 22-26 |
|
Волгунов Д. Г., Бирюков А. В., Гапонов С. В., Миронов В. Л.,
Чижик С. А. Особенности взаимодействия зонда с поверхностью
в shear force микроскопе с резонансным пьезоэлектрическим датчиком
силы // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 27-31 |
|
Жавнерко Г. К., Агабеков В. Е., Галлямов М. О., Яминский И.
В., Рогач А. Л., Гурин В. С. Исследование с помощью АСМ особенностей
структуры мономолекулярных композиционных пленок бегеновой кислоты
с CdTe наночастицами // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой
микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 32-35 |
|
Сергеев О. В., Борисенко В. Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж.
Реализация сканирующего ближнеполевого оптического микроскопа для
катодолюминесцентного микроанализа со сверхвысоким разрешением //
4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник
докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 36-39 |
|
Сергеев О. В., Гапоненко Н. В., Молчан И. C., Борисенко В.
Е., Хайдерхоф Р., Бальк Л. Дж. Ближнеполевая катодолюминесценция,
фотолюминесценция и структурные особенности тербийсодержащих пленок
ксерогелей оксида титана, сформированных в порах анодного оксида
алюминия // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 40-43 |
|
Матюхина Т. Г., Комков О. Ю., Чижик С. А. АСМ-исследование
клеток сердечно-сосудистой системы и крови. Проблемы и надежды //
4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник
докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 44-47 |
|
Chumakova O. V., Liopo A. V., Komkov O. Yu., Chizhik S. A.
Damaging effect of acetaldehyde on the membrane of striatal synaptosomes
as evaluated by atomic-force microscopy // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 48-50 |
|
Емельянов В. А., Пономарь В. Н., Ухов В. А., Чигирь Г. Г.
Применение сканирующей зондовой микроскопии в технологии микроэлектроники
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 51-53 |
|
Почтенный А. Е., Стукалов О. М., Бирюков А. Г., Гапонов С.
В., Миронов В. Л., Волгунов Д. Г. Фотоиндуцированные локальные
туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина
меди // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 54-59 |
|
Андреев М. А., Чекан В. А., Маркова Л. В., Кузнецова Т. А.
Атомно-силовая микроскопия как метод исследования структуры тонких
ионно-лучевых покрытий на основе хрома // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 60-63 |
|
Паньков В. В., Козлов С. В., Куницкий Л. И., Стукалов О. М.
Исследование процессов образования пленок многокомпонентных
оксидов металлов, полученных методом реакционной диффузии // 4-й
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник
докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 64-68 |
|
Стукалов О. М., Мисевич А. В., Почтенный А. Е. Влияние
толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких
сенсорных пленок на основе фталоцианина меди // 4-й Белорусский
семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. -
Гомель, 2000 г. - с. 69-74 |
|
Чижик С. А., Ан Х.-С., Лузинов И., Горбунов В. В., Дубравин
А. М., Цукрук В. В. Изображения фазового контраста для твердых
материалов и их интерпретация методом силовой спектроскопии // 4-й
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник
докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 75-80 |
|
Мышкин Н. К., Чижик С. А., Петроковец М. И. Масштабный
фактор в трибологии и зондовая микроскопия // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 81 |
|
Горбунов В.В., Фучигами Н., Цукрук В. В. Анализ локальной
теплопроводности поверхности материалов с помощью сканирующей термической
микроскопии // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 82-86 |
|
Горбунов В. В., Фучигами Н., Лузинов И. А., Цукрук В. В.
Анализ температуры стеклования сверхтонких полимерных пленок с использованием
сканирующей термической микроскопии // 4-й Белорусский семинар по
сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000
г. - с. 87-90 |
|
Овчинников Е. В., Струк В. А., Федоров Д. И. Морфология
тонкослойных покрытий на полимерных волокнах // 4-й Белорусский
семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. -
Гомель, 2000 г. - с. 91-94 |
|
Овчинников Е. В., Федоров Д. И. Влияние морфологии покрытий
на физико-механические свойства подложек // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 95-98 |
|
Мушовец И. И., Полевиков В. М., Хмыль А. А. АСМ анализ
начальных стадий электрокристализации покрытий серебра на поверхностях
кремния // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 99-102 |
|
Дубравин А. М., Ан Х.-С., Попов А. Н., Казаченко В. П., Цуан
Янь, Чижик С. А. АСМ анализ дорожек трения на углеродном покрытии
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 103-106 |
|
Стогний А. И., Корякин С. В., Бородько В. И., Новицкий Н. Н.,
Стукалов О. М. Исследование поверхности многослойных плёнок
Co/Cu, формируемых ионным распылением и ассистированием в аргон-гелиевой
среде // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 107-108 |
|
Корнийчук М. Б., Анищик В. М. Структурно-фазовые изменения
поверхности кобальта, имплантированного ионами сурьмы // 4-й Белорусский
семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. -
Гомель, 2000 г. - с. 109-110 |
|
Кухаренко Л. В., Акулов Г. Ю., Ильич Г. К., Лещенко В. Г.,
Анищик В. М., Грушевский В. В., Крылова Г. В., Хмельницкий А. И.
Особенности морфологии Fe-содержащих пленок Ленгмюра-Блоджетт, исследованные
методом АСМ // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 111-115 |
|
Полевиков В. М., Федосенко Н. Н., Шолох В. Г., Шельманов А.
И., Емельянов В. А. Исследование топологии поверхности локальных
осадков серебра методом атомно-силовой микроскопии // 4-й Белорусский
семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. -
Гомель, 2000 г. - с. 116-117 |
|
Булыга А. В. О механизме туннелирования электронов сквозь
создаваемый ими барьер пространственного заряда в межэлектродном
зазоре вакуумного диода // 4-й Белорусский семинар по сканирующей
зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 118-121 |
|
Игнатовский М. И. Методы сегментации АСМ и СТМ изображений.
Распознавание и описание кластерных объектов поверхности в нанодиапазоне
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 122-126 |
|
Киселевский О. С. Методика мультифрактального анализа поверхностей
по данным атомно-силовой микроскопии // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 127-131 |
|
Евтухов А. М. Влияние формы острия зонда на фрактальную
размерность профиля рельефа // 4-й Белорусский семинар по сканирующей
зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 132-134 |
|
Гайдук Н. Б. Компьютерное моделирование как метод анализа
АСМ-изображений контактных поверхностей // 4-й Белорусский семинар
по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник докладов. - Гомель,
2000 г. - с. 135-139 |
|
Ковалев А. В., Чикунов В. В. Методики калибровки и проведения
измерений для АСМ, работающего в режиме силовой модуляции // 4-й
Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии. Сборник
докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 140-144 |
|
Болтушкин А. В., Шадров В. Г., Стукалов О. М. Морфология
поверхности и магнитные свойства электролитически осажденных пленок
сплавов на основе Со // 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой
микроскопии. Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 145-146 |
|
Суслов А. А., Чижик С. А., Гайдук Н. Б., Тишков Н. И., Плескачевский
Ю. М. АСМ-анализ массопереноса в адгезионных соединениях полимер-металл
// 4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии.
Сборник докладов. - Гомель, 2000 г. - с. 147-149 |
|