ОДО "Микротестмашины"

Информационная и финансовая поддержка семинара

5-й Белорусский семинар по
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Минск, Беларусь
7-8 октября 2002 г.

8:30-12:00

Регистрация и расселение участников.

12:00

Открытие семинара

12:10

Развитие приложений СЗМ для оценки локальных механических свойств поверхности
А.А. Суслов, С.А. Чижик, В. В. Чикунов
Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель

12:40

Аналитическая бионаноскопия
И.В. Яминский
Центр перспективных технологий, Московский государственный университет, Россия

13:10-14:30

Обеденный перерыв

14:30

Наномеханическая оценка методом динамической силовой спектроскопии упругих свойств поверхностей оргстекла обработанных с помощью (water jet technology) высоконапорной водной струи
С.А. Чижик¹, А.И. Свиридёнок², М.И. Игнатовский², Hartmut Louis^3
1Институт механики металлополимерных систем НАНБ, Гомель
²НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно
³Hannover Institut fuer Werkstoffkunde, Hannover, Germany

14:50

Использование АСМ для контроля технологических параметров приготовления микроэлектронных приборов на основе высокотемпературных сверхпроводящих пленок La₂-XSrXCuO₄
И.Ф. Свекло
НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно

15:10

Формирование наноразмерных фоторезистивных масок с помощью сканирующего зондового микроскопа
Н.Г. Лазарева¹, О.В. Сергеев¹, В.Н. Пономарь², Г.Г. Чигирь², В.А. Ухов², А.М. Козлов¹, В.Е. Борисенко^1
1 Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, Минск
² УП “Белмикросистемы” НПО “Интеграл”, Минск

15:30

Сканирующая резистивная микроскопия микропроволок
П. А. Бородин¹, А. А. Бухараев¹, И.А. Рыжиков², С. А. Маклаков², Л.А. Алексеева^2
1 Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань, Россия
² Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН, Москва, Россия

15:50

АСМ исследования наноостровков на поверхности полупроводниковых структур
П.М. Литвин, И.В. Прокопенко, В.П. Кладько, Л.Л. Федоренко
Институт физики полупроводников НАН Украины, Киев

16:10-16:30

Кофе-брейк

16:30

Интернет-лаборатория сканирующей зондовой микроскопии
А.С. Филонов, И.В. Яминский
Центр перспективных технологий, Московский государственный университет

16:50

Наномасштабная репликация поверхности с помощью полимерных материалов
А.Д.Ахсахалян, Д.Г.Волгунов, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, В.Л.Миронов, Н.Н.Салащенко, С.А.Тресков
Инстиут физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия

17:10

Изучение особенностей роста тонких полимерных покрытий методом ССМ
А. А. Рогачев
Белорусский государственный университет транспорта, г. Гомель

17:30

Восстановление формы иглы АСМ с помощью деконволюции
Д.В. Овчинников, А.А. Бухараев, П.А. Бородин
Казанский физико-технический институт КазНЦ РАН, Казань

17:50

Анализ схем реализации механической части сканирующих зондовых микроскопов
А.А. Суслов, С.А. Чижик
ОДО “Микротестмашины”

9:30

Плотность фотонных состояний в мезоскопических структурах и ее оптическое проявление
С.В. Гапоненко
Институт молекулярной и атомной физики НАНБ, Минск

10:10

Towards nanometric optical tweezers through near-field photochemistry
P. Karageorgiev, L. Brehmer
Institute of Physics, University of Potsdam, Germany

10:40

Применение методов сканирующей зондовой микроскопии в исследовании атмосферных аэрозолей
Б.К. Сушко, Р.З. Бахтизин, Д.В. Гайнуллин
Башкирский государственный университет, Уфа, Россия

11:00

Преимущества и недостатки метода атомно-силовой микроскопии при исследовании многослойных композиционных покрытий
М.А. Андреев, Т.А. Кузнецова, Л.В. Маркова, В.А. Чекан
Институт порошковой металлургии НАНБ, Минск

11:20-11:40

Кофе-брейк

11:40

Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент
А.Е. Почтенный¹, О.М. Стукалов², И.П. Ильюшонок^1
1Белорусский государственный технологический университет, Минск
²Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск

12:00

Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов
О.М. Стукалов¹, А.Е. Почтенный², В.Л. Миронов ³, Б.А. Грибков³, С.В. Гапонов^3
1Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ, Минск
²Белорусский государственный технологический университет, Минск
³Инстиут физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия

12:20

Исследование микрорельефа поверхности химически осажденных матриц SiO₂ — носителей функциональных элементов
А.Н. Мурашкевич, Т.В. Камлюк, В.Г. Вашина, О.Н. Сергеева, И.М. Жарский
Белорусский государственный технологический университет, Минск

12:40

Применение атомно-силовой микроскопии для исследования процессов реакционной диффузии при синтезе пленок BaFe₁₂O₁₉
В.В. Паньков^1,2,3, С.В. Смоленчук³, O. Бабушкин⁴, А. Барсолдсон^4
1 Институт общей и неорганической химии НАН Беларуси
² Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
³ Белорусский государственный технологический университет
⁴ Технологический университет г. Лулеа, Швеция

13:00

Атомно-силовая микроскопия клеток РС12 до и после воздействия внешнего индуктора апоптоза – пероксида водорода
Л.В.Кухаренко¹, Г.К.Ильич¹, В.Г.Лещенко¹, Р.И.Гронская², А.А. Кухаренко^3
1Белорусский государственный медицинский университет
²Институт физиологии НАНБ
³Белорусский государственный университет

13:20-14:30

Обеденный перерыв

14:30

Исследования особенностей моно- и мультислоев органических пленок методом АСМ
И.В. Парибок, М.С. Парфенова, Г.К. Жавнерко, В.Е. Агабеков
Институт химии новых материалов НАН Беларуси

14:50

Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок n,n-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
А.Н. Лаппо¹, А.В. Мисевич¹, А.Е. Почтенный¹, О.М. Стукалов¹, Г.К. Жавнерко^2
1 Белорусский государственный технологический университет
² Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси
³ Институт химии новых материалов НАН Беларуси

15:10

Применение АСМ для анализа морфологии поверхности ультратонких металлических пленок
А.И. Стогний ¹, Н.Н. Новицкий ^2
1УП “Завод Транзистор” НПО “Интеграл”, г. Минск
²Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ

15:30

АСМ-анализ процесса сглаживания интрефейсных границ наноразмерных многослойных структур Co/Cu
Н.Н. Новицкий
Институт физики твердого тела и полупроводников НАНБ

15:50

Микромеханические исследования физических характеристик поверхности оргстекла, обработанной высоконапорной водной струёй (water jet technology)
А.И. Свиридёнок, М.И. Игнатовский
НИЦ проблем ресурсосбережения НАНБ, Гродно

16:10

Кофе-брейк

16:30

Дискуссия

17:00

Закрытие семинара

1.

Флуоресцентные свойства кантилеверов атомно-силового микроскопа
А.Гайдук¹, М.Антоник², Р.Кюнемуд², К.Сандхаген², В.Кудрявцев², К.Зайдель^2
1Институт молекулярной и атомной физики НАНБ
²Макс-Планк-Институт Биофизической Химии, Гёттинген, Германия

2.

Восстановление СТМ изображений атомарной структуры поверхности пиролитического графита методом деконволюции с учётом нелокальности взаимодействия в системе зонд-поверхность
К.П.Гайкович, Б.А.Грибков, А.В.Жилин, В.Л.Миронов
Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород, Россия

3.

Сравнительные АСМ - СТМ исследования морфологии пленок YBaCuO различного катионного состава
Н.В.Востоков, С.В.Гапонов, Б.А.Грибков, Д.В.Мастеров, В.Л.Миронов
Институт физики микроструктур РАН, Нижний Новгород, Россия