SurfaceXplorer :: Help content

ОДО "Микротестмашины"

| SurfaceXplorer [Содержание]

Программа обработки, визуализации и анализа СЗМ-изображений
SurfaceXplorer
Руководство пользователя
Содержание

1. Введение
   1.1 Общая информация
   1.2 Функции программы
   1.3 Требования к системе
   1.4 Установка и запуск программы SurfaceXplorer
   1.5 Техническая поддержка и обновление
   1.6 Условные обозначения и сокращения, принятые в тексте
2. Интерфейс пользователя
   2.1 Главное окно программы
   2.2 Специализированные окна визуализации данных
   2.2.1 Окно двухмерного представления
   2.2.2 Окно трехмерного представления
   2.2.3 Окно представления профиля поперечного сечения
   2.2.4 Окно представления данных анализа
   2.3 Команды меню
   2.4 Панель инструментов
   2.4.1 Панель работы с файлами
   2.4.2 Панель типов визуализации
   2.4.3 Панель инструментов выделения
   2.4.4 Панель инструментов обработки СЗМ-изображения
   2.4.5 Панель инструментов обработки АСМ NT-206
   2.5 Сектор объектов
   2.5.1 Вкладка Browse (Обзор)
   2.5.1.1 Панель [Objects] (Объекты)
   2.5.1.2 Панель [Folders] (Папки)
   2.5.1.3 Панель [Favorites] (Избранное)
   2.5.1.4 Сектор быстрого просмотра (сектор пиктограмм)
   2.5.2 Вкладка Properties (Свойства)
   2.5.2.1 Панель настройки двухмерного представления - [2D]
   2.5.2.2 Панель настройки трехмерного представления - [3D]
   2.5.2.3 Панель настройки цветовой палитры - [Palette]
   2.5.2.4 Панель настройки профиля поперечного сечения - [Profile]
   2.5.2.5 Панель настройки диаграмм анализа - [Histogram]
   2.5.3 Вкладка Data (Данные)
   2.6 Сектор управления АСМ
   2.6.1
   2.6.2
   2.6.3
3. Работа с СЗМ-изображениями : обработка, визуализация и анализ
   3.1 Файлы данных
   3.1.1 Структура данных
   3.1.1.1 Форматы СЗМ-файлов
   3.1.1.2 Форматы импортируемых/экспортируемых файлов
   3.1.2 Открытие файлов данных
   3.1.2.1 Открытие файлов с помощью системных ресурсов
   3.1.2.2 Предварительный просмотр и открытие файлов данных из секции пиктограмм
   3.1.2.3 Импорт файлов текстового формата
   3.1.2.4 Импорт графических файлов растрового формата
   3.1.2.5 Генерация СЗМ-изображения
   3.1.3 Сохранение данных в файле
   3.1.3.1 Управление слоями в файле
   3.1.3.2 Сохранение данных в файле текстового формата
   3.1.3.3 Сохранение изображения в файле растрового формата
   3.1.3.4 Копирование изображения/данных в буфер обмена
   3.1.3.5 Формирование файла отчета
   3.2 Двухмерное представление СЗМ-данных
   3.2.1 Визуализация совместных полей данных
   3.2.2 Виртуальная подсветка (имитация освещения)
   3.2.3 Преобразование СЗМ-изображения в окне двухмерного представления
   3.3 Коррекция СЗМ-изображения
   3.3.1 Искажение положения поверхности при получении СЗМ-изображения
   3.3.2 Выравнивание по линиям
   3.3.3 Выравнивание по поверхности
   3.3.4 Выравнивание по выделению
   3.3.5 Особенности применения процедуры выравнивания СЗМ-изображения
   3.3.6 Сглаживание дефектов сканирования на СЗМ-изображении
   3.4 Настройка цветовой палитры
   3.5 Выделение объектов на СЗМ-изображении
   3.6 Вырезание части СЗМ-изображения
   3.7 Построение и анализ профиля поперечного сечения
   3.8 Анализ высотных и угловых характеристик СЗМ-изображения
   3.9 Трехмерное представление данных
   3.10 Арифметические операции с СЗМ-изображениями
   3.11 Макрокоманды
   3.12 Расчёт коэффициентов уравнения коррекции движения пьезосанера
4. Специализированные функции обработки и анализа СЗМ-изображений
   4.1
   4.2
   ....
5. Измерения с помощью атомно-силового микроскопа
   5.1 Атомно-силовой микроскоп NT-206
   5.1.1 Комплектация АСМ NT-206
   5.1.2 Характеристики АСМ NT-206
   5.1.3 Блок сканирования
   5.1.4 Блок электроники управления
   5.2 Установка АСМ NT-206
   5.2.1 Размещение АСМ
   5.2.2 Подключение АСМ
   5.3 Подготовка АСМ NT-206 к работе
   5.3.1 Включение и выключение АСМ
   5.3.2 Установка зонда
   5.3.3 Настройка системы детектирования
   5.3.4 Установка образца
   5.4 Работа с АСМ NT-206
   5.4.1 Статический режим
   5.4.2 Динамический режим
   5.4.3 Режим двухпроходного сканирования
   5.4.4 Многослойное сканирование
   5.4.5 Силовая спектроскопия
   5.4.6 Микротрибометрические измерения
   5.4.7 Наноиндентирование и склерометрия
   5.4.7 Нанолитография
   5.4.7 Измерения с использованием термоячейки
   5.5 Калибровка измерительной системы АСМ
   5.5.1 Калибровка пьезосканера
   5.5.2 Коррекция нелинейности пьезосканера
6. Приложение
   Обзор основных принципов сканирующей зондовой микроскопии
   Перечень "быстрых" клавиш, используемых в программе SurfaceXplorer
   Предметный указатель

Copyright © 2005-2006, Microtestmachines Co.
All rights reserved.