SurfaceXplorer :: Measurements with AFM

ОДО "Микротестмашины"

| SurfaceXplorer [Измерения на АСМ]

5. Измерения с помощью атомно-силового микроскопа

В данной части приводится описание устройства атомно-силового микроскопа NT-206, подключаемого к персональному компьютеру и работающему под управлением специалзированного модуля программы SurfaceXplorer, а также описание методики работы с данным прибором.

5.1 Атомно-силовой микроскоп NT-206
5.1.1 Комплектация АСМ NT-206
5.1.2 Характеристики АСМ NT-206
5.1.3 Блок сканирования
5.1.4 Блок электроники управления
5.2 Установка АСМ NT-206
5.2.1 Размещение АСМ
5.2.2 Подключение АСМ
5.3 Подготовка АСМ NT-206 к работе
5.3.1 Включение и выключение АСМ NT-206
5.3.2 Установка зонда
5.3.3 Настройка системы детектирования
5.3.4 Установка образца
5.4 Работа с АСМ NT-206
5.4.1 Статический режим
5.4.2 Динамический режим
5.4.3 Режим двухпроходного сканирования
5.4.4 Многослойное сканирование
5.4.5 Силовая спектроскопия
5.4.6 Микротрибометрические измерения
5.4.7 Использование термоячейки
5.5 Калибровка измерительной системы АСМ
5.5.1 Калибровка пьезосканера
5.5.2 Коррекция нелинейности пьезосканера

Copyright © 2005-2006, Microtestmachines Co.
All rights reserved.